特点:
· 镀层测厚仪MAXXI 6提供高性能、快速可靠无损的镀层厚度测量及材料分析,确保产品质量的一致性和高品质。
· 高分辨率的硅漂移器(SDD)
· 开槽式超大样品舱设计
· 8个准直器
· USB接口与计算机连接
· 我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。镀层测厚仪 MAXXI 6 配备多准直器系统及超大样品舱,针对较薄而复杂的样品,具有完美的解决方案MAXXI可分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中13Al 到92U
· 采用微聚焦X射线光管,实现高精度、高可靠性、测量时间短、购置成本低
· 采用高分辨率的硅漂移探测器(SDD),提供能量级别的最佳效率,极低的检出限(LOD)
· 多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额,提高测量效率
· 开槽式超大样品舱设计,十分适合电路板或其他超大平板样品
· “USB接口”只需通过USB与计算机连接,无需额外的硬件或软件
· 德国制造,符合最高工程标准,坚固耐用的设计可实现长期可靠性
· 通过PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)认证,满足最高辐射安全标准
性能及符合性
· 最多同时测定5层,15种元素及共存元素的校正
· 同时实现多于25种元素的定量分析
· 检测方法通过ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等认证