特点：

·         镀层测厚仪MAXXI 6提供高性能、快速可靠无损的镀层厚度测量及材料分析，确保产品质量的一致性和高品质。

·         高分辨率的硅漂移器（SDD）

·         开槽式超大样品舱设计

·         8个准直器

·         USB接口与计算机连接

·         我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。镀层测厚仪 MAXXI 6 配备多准直器系统及超大样品舱，针对较薄而复杂的样品，具有完美的解决方案MAXXI可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中13Al 到92U

·         采用微聚焦X射线光管，实现高精度、高可靠性、测量时间短、购置成本低

·         采用高分辨率的硅漂移探测器（SDD），提供能量级别的最佳效率，极低的检出限（LOD）

·         多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额，提高测量效率

·         开槽式超大样品舱设计，十分适合电路板或其他超大平板样品

·         “USB接口”只需通过USB与计算机连接，无需额外的硬件或软件

·         德国制造，符合最高工程标准，坚固耐用的设计可实现长期可靠性

·         通过PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）认证，满足最高辐射安全标准

性能及符合性

·         最多同时测定5层，15种元素及共存元素的校正

·         同时实现多于25种元素的定量分析

·         检测方法通过ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等认证