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        产品分类

        X-Strata920荧光射线镀层测厚仪

        X-Strata920荧光射线镀层测厚仪

        • 所属分类:》》代理品牌设备

        • 点击次数:
        • 发布日期:2018/01/11
        • 在线询价
        详细介绍

        用途:

        牛津X-Strata920是牛津仪器最新发布的新一代X射线荧光(XRF)镀层测厚仪,仅需10秒即可得出测量结果,是CMI900的升级版,改进了系统安全部件,更新了软件系统,测量结果可进行多样化的输出。适用于大多数行业,是质量控制、节约成本的最佳检测工具。

         

        参数:                          

        测厚范围:

        取决于具体的应用。 

        测量精度:

        膜厚≤20μin(0.5um)时,测量误差值为:第一层±1μin,第二层±2μin,第二层±3μin

        膜厚>20μin(0.5um)时,测量误差值为:第一层±5%,第二层±10%,第二层±15%。

        特点:

          1. 以更有效的过程控制来提高生产力,有助电镀过程中的生产成本最小化、产量最大化。

          2. 卓越的分析性能。

          3. 无与伦比的性价比。

          4. 快速分析多达4层镀层及15种元素。

          5. 经行业认证的技术和可靠性,确保每年都要带来利益。

          6. 操作简单,只需要简单的培训。

          7. 超大样品台,便于大面积样品测量,比如印刷电路板。

          8. 坚固耐用,把停工期降到最少。

          9. 更好的稳定性及长期可靠性。

          10.     新的外观设计。

          11.     工作寿命延长。

          12.     新的安全特征确保数据完整性。

          13.     可定时的“自动锁机”功能。

          14.     防止未授权操作。

          15.     改进的报告能力。

          16.     与Microsoft Excel无缝联接。




        本文网址:http://www.portvetonc.com/product/556.html

        关键词:昆山卓尔信电子有限公司,牛津仪器,X-Strata920荧光射线镀层测厚仪

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